DPT-LCR1000高温介电温谱测试系统适用于电介质材料介电温谱、阻抗谱、频谱扫描的测试。系统软件将高温测试箱、高温测试夹具、多通道切换器、阻抗分析仪等设备无缝连接，测量在不同温度、不同测试频率下电容(C)、阻抗(Z)、相位角(θ)、损耗(D)等参数，通过计算获得复介电常数、电模量等参数，直接得出材料的介电温谱、频谱、阻抗谱、电模量、Cole-Cole等图谱，一次测量，同时输出，测量效率高。

HLDT-400型高低温介电温谱测试仪适用于电介质材料介电温谱、阻抗谱、频谱扫描的测试。系统软件将高低温测试箱、高低温测试夹具、多通道切换器、阻抗分析仪等设备无缝连接，测量在不同温度、不同测试频率下电容(C)、阻抗(Z)、相位角(θ)、损耗(D)等参数，通过计算获得复介电常数、电模量等参数，直接得出材料的介电温谱、频谱、阻抗谱、电模量、Cole-Cole等图谱，一次测量，同时输出，测量效率高，数据

HTIM-1000高温绝缘电阻测试仪 仪器简介： 高温绝缘电阻测试仪器运用三电极法设计原理测量。利用三电极测试系统，重复性与稳定性好，提高了夹具的抗扰能力，同时大大提高准确度也可应用于产品检测以及新材料电学研究等用途。 高温电阻率测试仪采用自主开发电子保护系统，提高了设备的an全性；选用热电偶保定温度的采集有效值、采用的SPWM电子升压技术，电压输出稳定性好。配备电压、电流传感器以

HTIM-1600超高温绝缘电阻测试仪采用使用方法多样化，最大2000V，最快6.4ms的采集系统，实现了是以往产品300倍的抗干扰功能最快6.4ms的高速测量，作为皮安表使用进行低电容检查，最高2×10^19 Ω显示，最小0.1fA分辨率标配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行设计的悬浮式电路，能不受测量环境影响进行稳定测量，并且运用在产线中实现高速测量。可实现绝缘材料

TFRT-300型薄膜变温电阻测试仪是一款多用途的电阻测试仪，即可应用于金属、半导体、导电高分子薄膜（或块材）电阻率和磁阻的测量，也可以应用于铁磁/非铁磁/铁磁三层或多层薄膜的磁电阻测量，是研究薄膜材料电阻和磁阻变化特性的重要仪器，对于先进材料应用和开发有着重要意义。

HTIM-1001A高温电阻测试仪采用四端测量方法在高温环境下对导电及半导电材料的电阻进行评估，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料，液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。