GWST-1000型高温四探针综合测试系统（包含薄膜，块体功能）是为了更方便的研究在高温条件下的半导体的导电性能，该系统可以*实现在高温、真空及惰性气氛条件下测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率和外延层、扩散层和离子层的方块电阻及测量其他方块电阻。

HTRS-1000型高温半导体材料电阻率测试仪主要用于半导体材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率，可以分析被测样品电阻和电阻率随温度、时间变化的曲线。目前主要针对圆片、方块、长条等测试样品进行测试，可以广泛用于半导体材料硅（si）、锗（ge）,化合物半导体材料砷化镓（GaAs）、锑化铟（InSb），三元化合物半导

HTIM-1000高温绝缘材料电阻率测试仪/GB-T10581-2006绝缘材料在高温下电阻和电阻率主要用于评估测量绝缘材料电学性能，该系统采用三环电极法设计原理并结合GB-T 10581-2006 绝缘材料在高温下电阻和电阻率试验方法标准设计开发，可以直接测量高温、真空、气氛条件下样品的电阻和体电阻率、漏电流等随温度、时间变化的曲线，高温绝缘材料电阻率测试仪系统已经在航天航空传感器领域得到很好的

PRPM-1000热释电系数高温测试系统 关键词：热释电，激光，红外 热释电材料目前主要用于红外、激光等热释电探测领域,也广泛地使用在各类辐射计,光谱仪,以及红外、激光探测器等方面。而热释电系数是测定红外探测器工作特性的主要参数之一。PRPM-1000热释电系数高温测试系统采用高精度进口的设备采集分析数据，对热释电系数能够准确的测试.