DPT-LCR1000高温介电温谱测试系统适用于电介质材料介电温谱、阻抗谱、频谱扫描的测试。系统软件将高温测试箱、高温测试夹具、多通道切换器、阻抗分析仪等设备无缝连接，测量在不同温度、不同测试频率下电容(C)、阻抗(Z)、相位角(θ)、损耗(D)等参数，通过计算获得复介电常数、电模量等参数，直接得出材料的介电温谱、频谱、阻抗谱、电模量、Cole-Cole等图谱，一次测量，同时输出，测量效率高。

HTIM-1600超高温绝缘电阻测试仪采用使用方法多样化，最大2000V，最快6.4ms的采集系统，实现了是以往产品300倍的抗干扰功能最快6.4ms的高速测量，作为皮安表使用进行低电容检查，最高2×10^19 Ω显示，最小0.1fA分辨率标配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行设计的悬浮式电路，能不受测量环境影响进行稳定测量，并且运用在产线中实现高速测量。可实现绝缘材料

TFRT-300型薄膜变温电阻测试仪是一款多用途的电阻测试仪，即可应用于金属、半导体、导电高分子薄膜（或块材）电阻率和磁阻的测量，也可以应用于铁磁/非铁磁/铁磁三层或多层薄膜的磁电阻测量，是研究薄膜材料电阻和磁阻变化特性的重要仪器，对于先进材料应用和开发有着重要意义。

HTIM-1001A高温电阻测试仪采用四端测量方法在高温环境下对导电及半导电材料的电阻进行评估，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料，液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。

HTIM-1000A高温电阻测试仪采用四端测量方法在高温环境下对导电及半导电材料的电阻进行评估，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用芯片控 AD制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备 英寸触摸屏， 10软件可保存和打印数据，自动生成

BLDL-1000型高温金属熔融电导率测试装置是一款专门应用于金属电导率测量的，它是一种在高温下测量金属材料在高温下熔融的电导率(电阻率）的装置。熔体的电导率是用双电极法测量的,是目前研究高温金属电导率的重要设备。