描述：四通道同屏对比测试高温介电温谱测量系统运用三电极法设计原理测量，并参考美国 A.S.T.M 标准。采用Labview系统开发具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合压电陶瓷与其它新材料测试多样化的需求。

SPJD-1200型型四通道同屏高温介电温谱测量系统运用三电极法设计原理测量，并参考美国 A.S.T.M 标准。采用Labview系统开发具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合压电陶瓷与其它新材料测试多样化的需求。电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制，当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数据，设备重新启动后可恢复原有试验数据。用于分析宽频、高低温条件下样品的介电系数、阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，得到这些变化曲线的频率谱、温度谱、介电谱曲线。可广泛应用于铁电压电陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究。

产品特点：

1、 提供多方位的测量功能和多元化的价位, 拥有更出色的测量精度:

匹配阻抗分析仪是采用自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，其0.05%的基本精度、最快达5.6ms的测试速度、10Hz-300MHz的频率范围及高达1GΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求，特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器向下扩展了十倍。

2、 采用Labview系统开发具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置。自动升温降温，测试功能强大

3、 四通道同时测量,提高效率,增加对比测试的精度;

材料与结构匹配设计夹具,高低温稳定性好、精度高;

温介电频谱测试功能；变温阻抗测试功能；扫频测试功能；

软件：采用C#语言编写，可视化程度高，自动测试，同时显示四通道的测试数据，并图形化。

1、 专用高频测试线缆，更适合高频测量：测试引线使用4端子对配置以扩展测量端口，附带BNC阳头连接板，用于连接高温炉的测试夹具，同时测试线采用高频测试专用测试线，设计两层屏蔽。更适合高频介电参数测量。

2、 可以实现多种材料不同功能的测试，高温介电，电阻测试等

探测采用高精度铂金电极，抗干扰的能力强，测量精度高

高温炉加热均匀，可实现多种气氛环境下的测试

介电系数、阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，得到这些变化曲线的频率谱、温度谱、介电谱曲线，多种物理参数可实时测试

专用的分析和测试软件，可以自行定义，保存数据

主要技术参数：

1、温度范围： -190℃-1000℃

2、测温精度： 0.1℃

3．升温速度： 1—20℃/min

4、控温模式： 程序控制，提供常温、变温、恒温、升温、降温等多种组合方式

5、通讯接口： RS-485

8、电极材质： 铂铱合金

9、上电极： 直径1.6mm球头电极，引线带同轴屏蔽层

10、下电极：直径26.8mm平面电极，引线带同轴屏蔽层

11、保护电极：  带保护电极，消除寄生电容、边界电容对测试的影响

12、电极干扰屏蔽:电极引线带同轴屏蔽，样品平台带屏蔽罩

13、夹具升降控制： 带程序和手动控制，可更换夹具的电动升降装置

14、热电偶 ：热电偶探头与样品平台为同一热沉，测控温度与样品温度保持一致

15、无电极样品尺寸：直径小于40mm，厚度小于8mm

16、带电极样品尺寸： 直径小于26mm，厚度小于8mm

17、软件功能：自动分析数据，可以分类保存，样品和测量方案结合在一起，生成系统所需的实验方案，输出TXT、XLS、BMP等格式文件

18、测量方案：    提供灵活、丰富的测试设置功能，包括频率谱、阻抗谱、介电谱及其组合

19、标准极化样品：8片（10mm*1.5mm）

20、配套设备装置：能够配合ZJ-3和ZJ-6压电测试仪进行测量

21、配套设备装置：可以配置10MM，20MM，30MM，40MM压片夹具

23、测试频率：20HZ-10MHZ

24、测试电平:100mV—2V

25、分辨率：1MHZ

26、输出阻抗:  100Ω

27、测试参数：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

28、基本准确度: 0.05%

29、显示:液晶显示

30、参数测量：多功能图形和参数测量

31、接口方式: RS232C或HANDLER

测试仪器：

高温介电测试系统可适配Agilent E4990A/E4294A/E4980A、Wayne Kerr 6500P/B、

Tonghui TH2838/TH2839/TH2826/TH2828/TH2829/TH2827等系列LCR表或阻抗分析仪，其他品牌型号也可定制开发

Agilent E4990A

· 五种频率选择；20 Hz 至 10/20/30/50/120 MHz，可升级

· ±0.08%（典型值 ±0.045%）基本阻抗测量精度

· 25Ω m 至 40 MΩ 宽阻抗测量范围（10% 测量精度范围）

· 测量参数：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、复合 Z、复合 Y、VAC、Iac、VDC、Idc

· 内置直流偏置范围：0 V 至 ±40 V、0 A 至 ±100 mA

· 10.4 英寸彩色 LCD 触摸屏上的 4 通道和 4 迹线

· 数据分析功能：等效电路分析、极限线测试

Agilent E4294A

覆盖了很宽的测试频率范围(40hz至110mhz)，具有±0.08%的基本阻抗精度。其优异的高q值/低d值精度使其能分析低损耗元件。其宽信号电平范围可用于在实际工作条件下评估器件。测试信号电平范围为5mv至1vrms或200ua至20marms，直流偏置范围为0v至±40v或0ma至±100ma。校准和误差补偿功能避免了进行夹具内器件测量时的测量误差。agilent 4294a是适用于电子元件设计、论证、质量控制和生产测试的强大工具。电路设计和开发工程师也能从它提供的性能和功能中受益。

Agilent E4980A

基本精度为0.1%

测试频率为100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
量程为20mV～1Vrms,以5mVrms分档
具有测试信号电平监视功能
高速测量:25ms
高速接触检查
大的电容测试量程
变压器参数测量(供选用)

Wayne Kerr 6500P/B

简易的TFT触屏操作，10分钟内轻易上手

　　电介质、压电片及石英晶体测试解决方案

30 ms超高速测试速度

　　等效Rdc 可高度精准四线式测试，量测到0.01mΩ

　　0.05%基本精确度

　　可内建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias

　　可将测试波形储存成CSV格式，放大、缩小及MARKER功能

　　20Hz~120MHz，七种机型，可随时升级 ，最高升级到120MHz

　　直觉的用户操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER

　　可使用鼠标及键盘操控，也可外接打印机及使用USB接口储存数据

　　具等效电路仿真功能，内建同频率LCR Meter一台

Tonghui TH29系列

测试频率:20Hz-1MHz，分辨率:最高0.1nHz

基本精度:0.05%

测试速度:最快5.6ms/次

测试原理:自动平衡电桥

高稳定性和一致性:高达15个测试量程配置