描述：TSDC-400W新款热刺激电流测量仪主要适用于在不同温度下测试材料电阻的试验测量系统，主要测试材料的电阻温度变化关系用于测量聚合物的分子运动现象与极化电流的关系，还可以用来测试热电常数和介电常数。符合JIS-K7131测试标准。，是研究材料内部空间电荷受激脱阱后的迁移以及衰减规律、偶极电荷的松弛变化规律、各种电荷之间的相互作用等的重要工具。

TSDC-400W新款热刺激电流测量仪

关键词：热刺激电流，电压，TSDC,TSD

一、设备概述：

TSDC-400W新款热刺激电流测量仪主要适用于在不同温度下测试材料电阻的试验测量系统，主要测试材料的电阻温度变化关系用于测量聚合物的分子运动现象与极化电流的关系，还可以用来测试热电常数和介电常数。符合JIS-K7131测试标准。，是研究材料内部空间电荷受激脱阱后的迁移以及衰减规律、偶极电荷的松弛变化规律、各种电荷之间的相互作用等的重要工具。其在绝缘材料的老化以及击穿研究、半导体光电材料及其元器件的开发、驻极体材料的研究等领域中得到了广泛的应用。仪器测试流程自动化实现和完成，并可以保存和导出试验数据。

二、应用

★材料特征测试
★半导体、纳米材料、聚合物材料、介质材料、电化学材料、铁电材料、石墨烯、陶瓷、生物材料、橡胶、薄膜、金属、有机材料等

★电子元器件泄漏电流和绝缘电阻测试
电容器、电阻器、二极管、晶体管、传感器、TFT和CNT等类型、光电器件、纳米器件、太阳能电池、开关、继电器等

★电子/非电子系统
★离子束、电子束、传感系统、粒子测量、嵌入式精密仪器等

★半导体和其它器件I-V特性测量

★体电阻/表面电阻率测量

三、产品主要特点：

1、在同一空间内可有 2 条通道

2、最宽的电压和电流动态范围

3、高度准确的 100 µs 脉冲可扩展直流生产测试能力

4、嵌入式脚本提供的生产吞吐量

5、消除与 PC 之间耗时的总线通信

6、高级数据处理和流量控制

7、通用型探头/处理程序控制

8、系统性能，无主机

9、TSP-Link® 技术支持扩展多达 64 条通道，支持高速、SMU-per-pin 并行测试（而不使用主机）。 <500 ns 时所有通道同时独立受控。

10、支持 <500 ns 通道间同步

11、可达 32 条或 64 条独立 SMU 通道

12、随着测试要求变化轻松重新配置

四、技术参数：

1、最小电流分辨率：20pA

2、温度测量范围：-160°C-600°C

3、升温速率：0.5℃--10℃/min

4、电压量程（DC）：10V/50V/100V/250V/500V/1000V

5、样品架：自动升降

6、加热方式：电热丝

7、制冷方式：液氮

8、导热制冷介质：二甲基硅油（粘度2CS,容量10L）

9、数据采集：软件控制，自动采集，实时动态显示曲线

10、数据保存：可导出EXEXL数据报表，生成电子报告

11、实验流程：参数设定后，整个实验过程无需人工干预，自动完成实验

12、测量电极直径：10MM

13、设备重量：100KG

14、加热功率：1500W

五、软件介绍：

起始温度：试验开始温度，需要设定，到达此温度后，开始做试验

截止温度：试验结束温度，需要设定，到此温度后，自动结束

变温速率：设定升温速率

保持时间：到达设定的温度后，需要保持的时间

坐标轴切换：以温度/时间为坐标轴，进行切换

驱动电压：选择试验电压

上升：电极支架上升键

下降：电极支架下降键

允许外部控制：手动在设备上进行上升和下降，需要在软件上进行授权