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  • JKLR-420高低温半导体冷热台
    JKLR-420高低温半导体冷热台 JKLR-420高低温半导体冷是可以使用显微镜载物片载样,且容易使用的通用型冷热台。此系列冷热台为大区域冷热台,主要用于等温分析,不需要非常高的加热和冷却速率,温度的热稳定性优于0.1°C。...
  • JKLR-120型显微镜冷热台
    JKLR-120型显微镜冷热台 JKLR-120型冷热台是全功能配置、即插即用的冷热台系统,由珀耳帖冷热台、温度控制器和循环水泵组成。冷却过程不需要液氮,使用循环水即可以达到-25°C(如果循环水温度为5°C,则...
  • JKZC-JDS04型材料介电常数介质损耗测试系统
    JKZC-JDS04型材料介电常数介质损耗测试系统 JKZC-JDS04型材料介电常数介质损耗测试系统是一款专用介电常数介质损耗测试系统由S916测试装置(夹具)、高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件、及LKI-1型电感器组成。依据国标GB/T 1...
  • SMDR-1600型1600℃超高温导热仪
    SMDR-1600型1600℃超高温导热仪 SMDR-1600型超高温导热仪|导热系数测试仪主要测试含碳耐火材料,石墨毡,碳毡,石墨等静压碳棒等低导热系数材料的导热系数。该仪器基于热流计法的原理,兼配GB/T10295等相关国标要求,测试温度高...
  • SMA-100A型饱和磁性分析仪
    SMA-100A型饱和磁性分析仪 在科研、国防和生产实践中,经常需要对各种材料磁性进行研究和检测,特别是急需有适应性强、灵敏度高、准确可靠、使用方便的磁测仪器。随着科学的发展,对仪器又提出了测量自动化智能化的要求,SMA-100A型饱...
  • TFRT-300型薄膜变温电阻测试仪
    TFRT-300型薄膜变温电阻测试仪 TFRT-300型薄膜变温电阻测试仪是一款多用途的电阻测试仪,即可应用于金属、半导体、导电高分子薄膜(或块材)电阻率和磁阻的测量,也可以应用于铁磁/非铁磁/铁磁三层或多层薄膜的磁电阻测量,是研究薄膜材...
  • 新D33测试仪兼容搭载D33空间夹具
    新D33测试仪兼容搭载D33空间夹具 ZJ-3型压电测试仪(准静态d33测量仪)、PVDF压电薄膜测试仪,D33系数共面夹具,D33系数空间夹具关键词:压电,陶瓷材料,高分子,d33/d15,共面夹具,空间夹具
  • HTIM-1001A高温电阻测试仪
    HTIM-1001A高温电阻测试仪 HTIM-1001A高温电阻测试仪采用四端测量方法在高温环境下对导电及半导电材料的电阻进行评估,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重...
  • 高温电阻测试仪I电阻率I电阻三合一
    高温电阻测试仪I电阻率I电阻三合一 HTIM-1000A高温电阻测试仪采用四端测量方法在高温环境下对导电及半导电材料的电阻进行评估,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重...
  • 常用的压电材料及D33测试仪(PZT/PVDF)
    常用的压电材料及D33测试仪(PZT/PVDF) 常用的压电材料及D33测试仪(PZT, ZrO2, Nb2O5, PVDF)常用的压电材料及测试仪器有以下几种(PZT, ZrO2, Nb2O5, PVDF):1.铅锆钛酸钡(PZT):PZT是常用的...
  • BKTEM-DX型热电性能测试平台
    BKTEM-DX型热电性能测试平台 BKTEM-DX型热电性能测试平台是一种用于热电器件(TEGs)温度相关转换效率评估的测量系统。该模块位于热板和冷板之间,其中热板连接到可调节加热器,冷板连接到恒温控制的液冷散热器。通过集成的电机自动...
  • PVDF/聚合物、(TRFE)薄膜电晕极化装置
    PVDF/聚合物、(TRFE)薄膜电晕极化装置 PZT-JH30/1压电复合极化装置主要用于30KV以下压电陶瓷或PVDF等薄压电材料的极化处理,广泛应用于高校及从事压电材料研究或生产的科研及生产单位,可以直接放置在实验桌上进行操作,方便安全。
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