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TFRT-300型薄膜变温电阻测试仪是一款多用途的电阻测试仪，即可应用于金属、半导体、导电高分子薄膜（或块材）电阻率和磁阻的测量，也可以应用于铁磁/非铁磁/铁磁三层或多层薄膜的磁电阻测量，是研究薄膜材料电阻和磁阻变化特性的重要仪器，对于先进材料应用和开发有着重要意义。
HTIM-1001A高温电阻测试仪采用四端测量方法在高温环境下对导电及半导电材料的电阻进行评估，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料，液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。
HTIM-1000A高温电阻测试仪采用四端测量方法在高温环境下对导电及半导电材料的电阻进行评估，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用芯片控 AD制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备 英寸触摸屏， 10软件可保存和打印数据，自动生成
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